名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センターの井田隆准教授と物質・材料研究機構量子ビームユニットの泉富士夫特別研究員が，物質の構造を解明するための新しい解析手法を共同開発しました。

多くの製造企業で使われている粉末Ｘ線回折測定装置で得られる実験データから，従来の解析方法より正確に物質中の原子の並び方（結晶構造）を推定できることが実証されています。

本研究成果の詳細は国際結晶学連合Journal of Applied Crystallography 10月号（2011年10月1日発行）に掲載される予定です。

詳しくは、以下のページをご覧ください。
井田研究室ホームページ