井田　隆

粉末あるいは焼結体中の結晶性物質の構造を知るための粉末Ｘ線回折の方法論の研究をしています。過去にはシンクロトロン軌道放射光を光源とした粉末Ｘ線回折装置の設計と開発、計測・制御ソフトウェアの作成、装置ユーザへのサポートなどに取り組みました。一方で、例えば近紫外光・可視光・近赤外光を使った分光研究では、1990年代には既に半導体プロセスを応用した検出効率の高い半導体型検出器が用いられていたのですが、粉末Ｘ線回折の分野では2000年代まで真空管を使った効率の高くない検出器が用いられていました。このタイプの装置の集光条件と回折条件による収差がどのような数式で表されるかは2020年に私の研究室で初めて明らかになりました。最近ではコンピュータを使った計算処理をするソフトウェアを開発する環境の整備もかなり進んできました。粉末Ｘ線回折データを正しく解析する方法論の構築に取り組んでいます。